JESD22標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱

JEDEC曾經(jīng)是電子工業(yè)聯(lián)盟，1999年，JEDEC獨(dú)立成為行業(yè)協(xié)會(huì)，拋棄了原來名稱中縮寫的含義，目前的名稱為JEDEC固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì)。固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì)發(fā)布的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)為JESD22測試標(biāo)準(zhǔn)。

JESD22標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱，可用于JESD22-A100標(biāo)準(zhǔn)的循環(huán)溫度-濕度-偏差與表面凝結(jié)壽命測試、JESD22-A101標(biāo)準(zhǔn)的穩(wěn)態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試。

測試要求：

1. 試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱

2. JESD22-A100D 溫度-濕度-偏差與表面凝結(jié)壽命測試：
測試時(shí)間:1008（-24，+168）小時(shí)；
測試溫度：30~65℃，但僅在65℃駐留；
測試濕度：90%~98%RH；
溫度變化速率：8.75℃/h~17.5℃/h;

測試步驟及一些注意點(diǎn)：
1）測試后的檢查不應(yīng)晚于48小時(shí)后，還有96小時(shí)內(nèi)要恢復(fù)。
2）若是測試后設(shè)備不是放在試驗(yàn)箱恢復(fù)，而是放在一個(gè)沒有干燥劑的密封袋內(nèi)，考慮到1/3的烘干（吸濕）速率，則上面的時(shí)間分別延長為144和288小時(shí)；
3）當(dāng)溫度從65到30再到65的過程中，相對濕度可能掉到80%，溫度箱應(yīng)有減壓功能；
4）測試過程中含有離子污染物的治具需要受到管控；
5）去離子水的阻抗要求最小阻抗＞1MΩ•cm；
6) 如果周期性上電測試，需要指定周期頻率和占空比（duty cycle）；

3. JESD22-A101 穩(wěn)態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試
測試時(shí)間:1000（-24，+168）小時(shí)；應(yīng)用此標(biāo)準(zhǔn)并非一定要測這么長時(shí)間，如果不是此測試時(shí)間則指定下測試時(shí)間即可；
測試溫度：85℃, 容差± 2度，溫箱干球溫度；
測試濕度：85%RH，容差± 5%；

注意點(diǎn)：
1）升溫升濕（Ramp-up)要在3小時(shí)內(nèi)完成,同時(shí)要避免冷凌水，通常的做法是先升溫，再升濕。
2）降溫降濕（Ramp-down)要在3小時(shí)內(nèi)完成，同時(shí)避免冷凌水，這里有寫在ramp-down過程中始終保持干球溫度高于濕球溫度，通常我們做法是先降濕，再降溫。